IGBT双脉冲测试平台
该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，以表征器件的动态特性，通过特制测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试
品牌： 华科智源
名称： 双脉冲测试平台
型号： PT-1224
用途： 测试动态参数
1.1 原理简述
双脉冲测试平台主要是通过特定程序控制功率元件在可控范围内两次开通，并测量过程中各 种动态参数，特别是在不同母线电压，不同温度下参数差异，是评估 FRD 和 IGBT 二十多种 动态参数重要测量手段。同时也是功率元件驱动及保护电路参数调整和验证的测量平台。
1.2 原理框图
1.3 主要作用
1、测试对比不同 IGBT 的参数；
2、评估驱动的功能和性能；
3、获取 IGBT 在开通、关断过程的主要参数，以评估 Rgon 及 Rgoff 的数值是否合适；
4、开通、关断过程是否有不合适的震荡；
5、评估二极管的反向恢复行为和安全余量；
6、IGBT 关断时的电压尖峰是否合适，关断之后是否存在不合适的震荡；
7、评估 IGBT 并联的均流特性；
8、测量母排和系统的杂散电感。
9、可兼容 TO-252、TO263、TO-3P、TO-247、ME4、HP1、Hpdriver 等封装；如特殊封装可 以定制开发适配版。
电源范围
0～1000VDC
加热范围
室温～200℃
测试电流
0～2400A
负载电感
50uH\100uH\200uH\500uH （标配 2 种）
脉宽调制范围
5～400us
脉宽显示屏
4 寸
通过此设备与示波器连接测试项目
开通参数
关断参数
Frd 反向恢复参数
开通*大尖峰电流 Ic-peak max
关断*大尖峰电压 Vce-peak max
*大反向恢复电流 IRM
开通时间 Ton
关断时间 Toff
反向恢复损耗 Erec
开通延迟 Td-on
关断延迟 Td-off
反向恢复时间 Trr
开通电压变化率 dv/dt-on
关断电压变化率 dv/dt-off
反向恢复电荷 Qrr
开通电流变化率 di/dt-on
关断电流变化率 di/dt-off
反向恢复峰值功耗 Prr-peak
开通电压下降时间 tf-v-on
关断电压上升时间 tr-v-off
前沿电流变化率 di/dt-r
开通电流上升时间 tr-i-on
关断电流下降时间 tf-i-off
后沿电流变化率 di/dt-f
开通损耗 Eon
Ic 拖尾电流值 It
反向恢复电压变化率 dv/dt-rr
Ic 拖尾时间 Tt
*大反向恢复尖峰电压 Vrr-peak
关断损耗 Eoff
